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民标瞬态抗扰度
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矢量信号源
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谐波闪烁测试系统
实验室拥有多套谐波闪烁测试系统1.EMTEST Netwave系统系统组成:DPA503N三相谐波分析仪AIF503N 三相闪烁阻抗多功能电源Netwave67.52.三相32A谐波闪烁测试系统HnF-3P32谐波闪烁测试系统HnF-3P32,满足IEC 61000-3-2/3/11/12等标准的认证级测试要求,同时满足IEC 61000-4-13/14/28等标准的认证级测试。系统配置有任意波形发生器,满足ISO 21498-2、VW80300,LV123等标准的汽车电子高压电性能测试要求。系统组成:三相谐波分析仪:ZES LMG641三相闪烁阻抗:FI-3P32多功能电源:IT-7942E测试软件:HnF-LAB3.三相75A谐波闪烁测试系统HnF-3P75谐波闪烁测试系统HnF-3P75,满足IEC 61000-3-2/3/11/12等标准的认证级测试要求,同时满足IEC 61000-4-13/14/28等标准的认证级测试。系统配置有任意波形发生器,满足ISO 21498-2、VW80300,LV123等标准的汽车电子高压电性能测试要求。系统组成:三相谐波分析仪:ZES LMG671三相闪烁阻抗:FI-3P75多功能电源:IT-7960P测试软件:HnF-LAB
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音频分析仪
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静电放电抗扰度
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气动遥控装置
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EMF测试系统
SMP3手持式场强仪3合1设备:²静态场测量,频谱分析²和宽带场强计FFT- 基于时域的频谱分析²1 Hz - 10 MHz宽带测量²(0 Hz - 60 GHz)EMF职业健康²ICNIRP, EU Directive, FCC, SC6 (2015),...数字输出²实时外部测量技术规格:支持的探头:参数表:SMP3场强仪特点²3合1场强仪:频谱分析(DC – 10MHz),宽带测量(DC – 60CH z)以及静态场测量²使用数字处理进行基于FFT的实时频谱分析²加权峰值测量法(WPM),用于自动实时和标准限值对比²用于峰值检测的特殊自动增益功能(针对焊接等检测场景)²显示屏可以显示RMS均方根值和峰值²特定频率范围的时域测量功能²探头自动识别功能²电磁场测试选择²总场强值和各向轴场强值(X,Y,Z)显示²频率范围选择²1Hz, 10Hz、25Hz 和 100Hz 的高通滤波器²可同时显示最大值、最小值和平均值²滑动窗口根据标准要求显示RMS均方根值和峰值²空间平均值功能²测量时间1秒到100小时可调²可编程起始测量时间²宽带测量随时间变化的图形显示²可调图形显示1秒到12分钟²阈值可调的报警功能²用于实时外部测量的数字输出接口²USB-C连接线和光纤连接²大存储容量²一键截图功能更方便于报告导入²用于设备控制和报告导出的PC软件²结果可自动上传至网页控制中心²支持多国语言显示点击下载产品资料.pdf
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CIV_TRS
(民标)瞬态传导抗扰度
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HTV
三综合环境试验室
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近场探头
为了降低干扰,寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的,通过近场测量可以很方便的实现定位的功能,甚至可以精确到IC引脚以及具体的走线。容向公司提供各类近场探头,测试频率高达20GHz,可用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况。近场测量方法得到的信息,能定位干扰源,从而采取相应措施以减少电磁干扰。EMC标准认证测试,是远场测试。远场测试能给出频率信息,即哪些频点超标了,但是没有位置信息。为了通过测试,需要从源头上来采取措施,所以需要应用近场测量来寻找干扰源。宽频率范围,多种形状的探头,可以完成几乎所有的电磁场测试任务。通过移动探头可以检测出磁场的方向和分布,适用于IC引脚区域、滤波电容、EMC器件等的磁场检测;电场近场探头可以检测导体表面产生的电场。无源探头,可以直接连到频谱分析仪或者示波器的50欧姆输入端,方便检查使用不同手段对磁场或者电流的变化。使用方便,重量轻,安装快捷。RF 1RF2RF3miniRF4-EH场探头RF-R 3-2H 场探头RF-U 2,5-2H 场探头RF-K 7-4E 场探头RF-E 10H场探头RF-R 400-1H场探头RF-R 50-1H场探头RF-U 5-2H场探头RF-B 3-2H场探头 RF-B 0,3-3H场探头 RF-R 0,3-3E场探头 RF-E 02E场探头RF-E 05LF1XF1MFA01SXH-场探头LF-R 400H-场探头LF-U 2,5H-场探头LF-U 5H-场探头LF-B 3H-场探头XF-R 400-1H-场探头XF-R 3–1H-场探头XF-B 3–1H-场探头XF-U 2,5–1E-场探头XF-E 10H-场探头MFA-R 0,2-6H-场探头MFA-R 0,2-75H-场探头MFA-K 0,1-12偏置器BT 706H-场探头SX-R3-1H-场探头 SX-B3-...
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E1抗干扰开发系统
EFT/ESD 问题的测量和定位发表于2006年5月电子工程专辑作者:沈学其容向系统科技有限公司 Compliance Direction Systems Inc.AbbreviationEFT:Electrical Fast Transient,电快速瞬变脉冲群ESD:Electro Static Discharge,静电放电EMC:Electromagnetic Compatibility,电磁兼容EUT:Equipment Under Test,被测物PCB:Printed Circuit Board, 印刷电路板Abstract电子产品不能通过EFT/ESD测试的根本原因,在于由EFT/ESD脉冲引起的瞬态、高压、宽频干扰电流会流入内部电路模块,该干扰电流产生的电磁场会干扰产品内部关键信号线的时序或者影响器件的正常工作,传统的方法无法测量这个干扰电流的电流路径,也难于确认被影响的信号线或者器件。本文介绍一种能测量和定位EFT/ESD问题的工具——E1抗干扰开发系统,详细介绍了如何使用E1进行电子产品EFT/ESD问题的测量,敏感点定位,以及电路修改的有效性评估。The essential reason of EUT failed in EFT/ESD testing, is that the transient, high voltage, broad-spectrum disturbance pulses arose disturbance current flow through electronic modules. The critical signals or sensitive components may be influence by the magnetic field of the disturbance current. It is ...
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EA300 EMI分析仪
EA-300 EMI分析仪在电源线或信号线传导骚扰(CE)测试中,接收机测量到的被测物(EUT)产生的骚扰电平,是共模干扰(共模电流ICM)和差模干扰(IDM)的合成。如果EUT产生的骚扰信号超过标准要求,一般需要增加滤波器等手段来降低骚扰电平。设计EMI滤波器时,如果能知道所需滤除信号的性质(差模或共模),就能有针对性地把滤波器设计为共模滤波器或差模滤波器。共模滤波器一般使用共模电感,而差模滤波器一般使用LC滤波器或磁珠+电容等方式的滤波器。电源线或者信号线上同样存在影响功率骚扰(频率范围为30MHz-300MHz)或辐射骚扰(频率范围为30MHz-1GHz或更高)测试结果的骚扰信号,如果能在更宽的频率范围内测量出线缆上的共模干扰或差模干扰成分,就能允许工程师有针对性地采取措施,快速排除高频EMI问题。传统的滤波器性能,都是基于50欧姆阻抗测量的,然而不同源阻抗下的滤波器性能(插损)是不同的。在排除EMI问题时,在不清楚源阻抗的情况下,工程师难于准确选择滤波器。EMCIS公司在第一代EMI分析仪EA-2100共模/差模分离装置的基础上,开发了新的第二代EMI分析仪EA-300。EA-300 EMI分析仪,内置计算机,增加了IMP标准阻抗,提供了噪声源阻抗测量和滤波器设计功能。EA-300能够分别测量被测物的共模和差模噪声源阻抗,并根据测量到的阻抗,使用先进的滤波器设计工具,给出合适的滤波器器件参数,方便工程师选择合适的EMI对策和零件,从而加快产品开发时 间、节省研发经费,并可将曾经很难的理论,用科学的方法解释出来。EA-300连接到两条线路的LISN(线路阻抗稳定网络)的RF输出端口,连接电缆必须等长,而且必须具备足够的屏蔽性能。通过面板选择,可以让EA-300的输出在L1、L2、共模和差模间切换,不需要更换外部连接。EA-300要求使用两条线...
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